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二手 N&K 计量/检验（半导体）在忠清南道, 韩国

2006 N&K N&K 5000-CD
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
天安市, 韩国
N&K OptiPrime - CD
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样 | - 波长范围: 190 - 1000 纳米 | 尺寸（宽 x 深 x 高）: 112 厘米 x 202 厘米 x 189 츠 | 重量（无包装）: 770 Kg
天安市, 韩国
N&K N&K 1700
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | * 晶片: 4", 6", 8". | *.斑点大小: 50um。
天安市, 韩国
N&K N&K 1700
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.波长范围: 190nm ~1000nm (UV/VIS) | *.斑点大小: 50±5 μm | *.舞台运动控制: NI NuDrive多轴控制器 | *.x-y阶段行程: 200x200 mm
天安市, 韩国
2007 N&K N&K 小脚 8000 CD
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 带光点尺寸的分析器单元: 50 um | S/w版本: 10.5.3.0 | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
天安市, 韩国
2006 N&K N&K 5700 CDRT
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 斑点大小: R = 50um, T < 400um
天安市, 韩国
2004 N&K N&K 3700 RT
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样 | 斑点大小: R = 50um, T < 400um
天安市, 韩国
2006 N&K NK5300
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率，偏振分析单元，光斑大小: 50 um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
天安市, 韩国
2005 N&K 1700RT
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 斑点大小: R = 50um, T < 400um，手动加载。
天安市, 韩国
N&K N&K 3000
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样 | - 波长范围 duv-vis-nir: 190 至 1000 纳米 | - 测量薄膜: OXIDE/PR/NITRIDE/OXINITRIDE/POLY/Ti/TiN... | - 测量项目: 沟槽深度、厚度、n(RI)、K、反射率、透射率......
天安市, 韩国