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计量/检验(半导体)
二手 2006 N&K N&K 5000-CD 在 天安市, 忠清南道, 韩国
二手
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规格参数
新旧状况
二手
年份
2006
晶片尺寸
8"
销售状况
沽出
工具的状况
原样
分类
计量/检验(半导体) 在 韩国
子类别
计量学
子类别 2
薄膜厚度测量
产品编号
91718172
描述
将进行全面翻修。
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计量学
薄膜厚度测量
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品牌
N&K
型号
N&K 5000-CD
位置
🇰🇷
天安市, 忠清南道, 韩国
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