二手 2004 N&K N&K 3700 RT 在 天安市, 忠清南道, 韩国
二手
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规格参数
描述
宽带光谱测量透明基材上的薄膜厚度，包括光罩网纹。
n&k 3700-RT自动化系统是为处理5英寸或6英寸的方形掩膜或高达8英寸的方形样品而设计的。
这些系统也可以为透明晶圆进行配置。
n&k 3700-RT同时确定厚度，以及190-1000nm光谱范围内的n和k，并直接在设备上提供非破坏性、实时、高产量的测量。该系统在同一地点收集反射率和透射率数据（在190-1000纳米的光谱范围内），包含先进的模式识别软件、专利的微点测量技术和独特的基于全反射的光学系统。