半导体制造设备 » 计量/检验（半导体）

二手 N&K N&K 3000 在 天安市, 忠清南道, 韩国

二手

规格参数

新旧状况
二手
晶片尺寸
8"
销售状况
沽出
工具的状况
原样
- 波长范围 duv-vis-nir
190 至 1000 纳米
- 测量薄膜
OXIDE/PR/NITRIDE/OXINITRIDE/POLY/Ti/TiN...
- 测量项目
沟槽深度、厚度、n(RI)、K、反射率、透射率......
分类
计量/检验（半导体） 在 韩国
子类别
计量学
子类别 2
薄膜厚度测量
产品编号
102068898

描述

3000 n&k 分析仪可同时测定所有类型的薄膜/基底组合的贴片和非贴片晶片的厚度和 n&k 光谱
沟槽深度的非破坏性测量
厚度、折射率（n,RI）、消光系数（k）、薄膜能带隙测量
还可测量各种薄膜和基底的反射率、透射率和界面粗糙度
- 晶圆尺寸可达 6 英寸（可转换为 8 英寸）

- 全自动晶片处理
- 50 微米光斑尺寸
- 2D/3D 地图

查看更多

计量/检验（半导体） 在 韩国计量学薄膜厚度测量N&K 计量/检验（半导体）

请向卖家询价

品牌
N&K
型号
N&K 3000
位置
🇰🇷 天安市, 忠清南道, 韩国

对这台机器有兴趣吗？

卖家回复率:

4.0