半导体制造设备 » 计量/检验（半导体） » 忠清南道

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二手 计量/检验（半导体） 在 忠清南道, 韩国

  • 2010 KLA TENCOR Candela CS20

    2010 KLA TENCOR Candela CS20

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: CANDELA CS20

    晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑: 直径...

    天安市, 韩国
  • 1997 Schmitt Measurement System TMS

    1997 Schmitt Measurement System TMS 2000

    • 二手

    • 品牌: Schmitt Measurement System

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • N&K N&K 1700

    N&K N&K 1700

    • 二手

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | * 晶片: 4", 6", 8". | *.斑点大小: 50um。

    天安市, 韩国
  • 1997 LEO/KOBELCO LTA-700

    1997 LEO/KOBELCO LTA-700

    • 二手

    • 品牌: Kobelco

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • HITACHI S-5500

    HITACHI S-5500

    • 二手

    • 品牌: Hitachi
    • 型号: S-5500

    晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 良好

    天安市, 韩国
  • KLA TENCOR P-2

    KLA TENCOR P-2

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-2

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。

    天安市, 韩国
  • 1995 KLA TENCOR P-10

    1995 KLA TENCOR P-10

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-10

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | - 测量范围: 13㎛,300㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ，4A。

    天安市, 韩国
  • 2010 SDI/SEMILAB MCV2500

    2010 SDI/SEMILAB MCV2500

    • 二手

    • 品牌: Semilab

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 std(% ) <0.167%。 | - 摩斯晶圆面积测试: 1 std(% ) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | ...

    天安市, 韩国
  • 2007 N&K N&K Little foot

    2007 N&K N&K Little foot 8000 CD

    • 二手

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 带光点尺寸的分析器单元: 50um | S/w版本: 10.5.3.0 | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓

    天安市, 韩国
  • 2005 KLA TENCOR OSA6100

    2005 KLA TENCOR OSA6100

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑:...

    天安市, 韩国
  • 2006 KLA TENCOR OSA6100

    2006 KLA TENCOR OSA6100

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50Å;;深。 | - 坑:...

    天安市, 韩国
  • 1998 KLA TENCOR HRP100

    1998 KLA TENCOR HRP100

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 1996 NANOMETRICS 2100

    1996 NANOMETRICS 2100

    • 二手

    • 品牌: Nanometrics

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。

    天安市, 韩国
  • 2006 N&K NK5300

    2006 N&K NK5300

    • 二手

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率，偏振分析单元，光斑大小: 50um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓

    天安市, 韩国
  • 2006 KLA TENCOR Archer 10XT+

    2006 KLA TENCOR Archer 10XT+ (AIM+)

    • 二手

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
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