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SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM2000
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最低 65 µ;;米（标准） | - ...
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N&K OptiPrime - CD
二手
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样 | - 波长范围: 190 - 1000 纳米 | 尺寸（宽 x 深 x 高）: 112 厘米 x 202 厘米 x 189 츠 | 重量（无包装）: 770 Kg
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2012 KLA TENCOR P16+
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P16
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -；触控笔尖（绿色）: 2 um 半径 | -操作系统: Windows XP | -；软件/硬件: 版本 7.40.07 | -重复性: 6 Å；；或 0.1%（1 秒）、
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2004 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM 2000 Nano SRP
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最小 65 µ;m（标准） | - 探...
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1998 PROMETRIX RS35
二手
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | * 软件/硬件版本: ST-6.51（配备 StatTrax 的 OmniMap RS55） | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
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2002 KLA TENCOR P-15
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-15
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 测针尖（绿色）: 2um 半径 | - 测量范围: 13㎛,65㎛,327㎛. | - 扫描长度: 205毫米。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~50毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - s/w版本: 6.41 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 220 伏/50 ...
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2009 SDI/SEMILAB WT-2000PV
二手
- 品牌: Semilab
- 型号: WT-2000PV
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 双电脑: DOS PC 和 Window PC | 应用软件: Wintau 32 ( Windows PC ) | - 权力: 220 伏或 115 伏，50/60 赫兹 | - 真空: 1/4 英寸 0.2 ~0.5 巴 | 载流子寿命测量 (μ-pcd)，激光波长: 904 纳米
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2018 SDI/SEMILAB WT-2020
二手
- 品牌: Semilab
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 双电脑: DOS PC 和 Window PC | 应用软件: WSOS2（DOS PC），Wintau 32（Windows PC） | - 权力: 220 伏或 115 伏，50/60 赫兹 | - 真空: 1/4 英寸 0.2 ~0.5 巴 | 辅助激光器（选配）: 500 毫瓦，349 纳米
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2010 KLA TENCOR Candela CS20
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CANDELA CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑: 直径...
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1997 Schmitt Measurement System TMS 2000
二手
- 品牌: Schmitt Measurement System
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
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