2005 NANOMETRICS Nanospec 6100
二手
- 品牌: Nanometrics
- 型号: Nanospec 6100
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | -;物体(自动左轮手枪): 5x、10x、15xuv、40x | -测量范围: 25-;200,000 Å; | -;软件/硬件: 2.0 版(适用于 Windows 的 Nanospec 6100)
天安市, 韩国1994 KLA TENCOR SFS 6200
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Surfscan 6200
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4 - 8英寸。 | - 软件版本: 2.1
天安市, 韩国NIKON Nikon Eclips L200 + NWL641
二手
- 品牌: Nikon
- 型号: NWL641
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4~6" | - 目标: 5倍,10倍,20倍,50倍,100倍 | - 检查模式: 微观和倾斜宏观检查
天安市, 韩国2000 KLA TENCOR AIT AIT XP+(Fusion)
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: AIT XP
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 晶圆尺寸: 200mm | Os: 微软视窗 NT 4.0 | 应用软件: 版本 6.3.24.3 ( 创建时间 2006.8 ) | 激光: 75mW 488nm 氩离子激光器 | - cda: 1/4" , 最小 90psi | - 真空: 1/4 英寸 20 英寸汞柱 | .(主): 208VAC,3 相,4 线制,频率 50/60Hz | .(图...
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2002 NANOMETRICS Nanospec 9300
二手
- 品牌: Nanometrics
- 型号: Nanospec 9300
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 头部类型: 紫外线DIO | 录像机: RS170(B/W)
天安市, 韩国2011 KLA TENCOR Candela 8600
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8600
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽,1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛,50Å;;深。 | - 污渍: 直径20㎛,10Å;;厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
天安市, 韩国2012 KLA TENCOR Candeal 8620
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽,1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛,50Å;深。 | - 污渍: 直径20㎛,10Å;厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | - 输...
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1994 KLA TENCOR SFS 6200
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Surfscan 6200
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | - 晶片尺寸: 4 - 8英寸。 | - 软件版本: 2.1.
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2011 KLA TENCOR Candela 8600
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8600
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽,1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛,50Å;深。 | - 污渍: 直径20㎛,10Å;厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | - 输...
天安市, 韩国2011 KLA TENCOR Candela 8620
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽,1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛,50Å;;深。 | - 污渍: 直径20㎛,10Å;;厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
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