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2011 KLA TENCOR Candela 8600
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8600
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
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2011 KLA TENCOR Candela 8600
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8600
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | - 输...
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1993 KLA TENCOR FLX2320
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: FLX-2320
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -晶片: 6" | -速率: 5秒，用于150毫米晶圆。 | -范围: 2x10E7 ~ 4x10E7 达因/厘米2 | -均方根噪音: 0.0001 mE-1（半径=10,000米） | -决心: 0.00003mE-1(33公里) | -min scan setp: 0.02mm | -每次扫描的最高分: 1250 | -最小半径: 2.0m(for...
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2011 KLA TENCOR Candela 8620
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
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2012 KLA TENCOR Candeal 8620
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | - 输...
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2006 KLA TENCOR CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直径2...
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2009 KLA TENCOR CS10V
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS10V
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直...
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2006 KLA TENCOR CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直径2...
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2010 SDI/SEMILAB MCV2500
- 品牌: Semilab
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电...
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2004 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM5130
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° -...
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2001 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM495
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° - ...
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2006 N&K NK5300
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率，偏振分析单元，光斑大小: 50 um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
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1996 NANOMETRICS 2100
- 品牌: Nanometrics
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
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