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二手 计量/检验（半导体） 在 忠清南道, 韩国

  • 2010 SDI/SEMILAB MCV2500

    2010 SDI/SEMILAB MCV2500

    • 品牌: Semilab

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电...

    天安市, 韩国
  • 1997 LEO/KOBELCO LTA-700

    1997 LEO/KOBELCO LTA-700

    • 品牌: Kobelco

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 2009 SDI/SEMILAB WT-2000PV

    2009 SDI/SEMILAB WT-2000PV

    • 品牌: Semilab
    • 型号: WT-2000PV

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 双电脑: DOS PC 和 Window PC | 应用软件: Wintau 32 ( Windows PC ) | - 权力: 220 伏或 115 伏，50/60 赫兹 | - 真空: 1/4 英寸 0.2 ~0.5 巴 | 载流子寿命测量 (μ-pcd)，激光波长: 904nm

    天安市, 韩国
  • N&K N&K 1700

    N&K N&K 1700

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.波长范围: 190nm ~1000nm (UV/VIS) | *.斑点大小: 50±5 μm | *.舞台运动控制: NI NuDrive多轴控制器 | *.x-y阶段行程: 200x200 mm

    天安市, 韩国
  • 2006 N&K N&K 5700 CDRT

    2006 N&K N&K 5700 CDRT

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 斑点大小: R = 50um, T < 400um

    天安市, 韩国
  • 2005 N&K 1700RT

    2005 N&K 1700RT

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 斑点大小: R = 50um, T < 400um，手动加载。

    天安市, 韩国
  • SDI/SEMILAB FAaST 200 SL

    SDI/SEMILAB FAaST 200 SL

    • 品牌: Semilab
    • 型号: FAAST 200 SL

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 2008 SOLID STATE MEASRUEMENT INC.

    2008 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM530

    • 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新的 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° ...

    天安市, 韩国
  • 1997 SOLID STATE MEASUREMENT INC.

    1997 SOLID STATE MEASUREMENT INC. SSM5200

    • 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 2007 N&K N&K 小脚 8000

    2007 N&K N&K 小脚 8000 CD

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 带光点尺寸的分析器单元: 50 um | S/w版本: 10.5.3.0 | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓

    天安市, 韩国
  • VEECO D3100S-1

    VEECO D3100S-1

    • 品牌: Veeco - Sloan
    • 型号: D3100S-1

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀

    天安市, 韩国
  • 2005 KLA TENCOR OSA6100

    2005 KLA TENCOR OSA6100

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑:...

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  • 2006 KLA TENCOR OSA6100

    2006 KLA TENCOR OSA6100

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50Å;;深。 | - 坑:...

    天安市, 韩国
  • 1995 KLA TENCOR P-10

    1995 KLA TENCOR P-10

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-10

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | - 测量范围: 13㎛,300㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ，4A。

    天安市, 韩国
  • KLA TENCOR P-2

    KLA TENCOR P-2

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-2

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。

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