2009 KLA TENCOR CS10V
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS10V
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 25毫瓦的激光,405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长,0.1μm宽,50埃;深。 | - 坑: 直...
天安市, 韩国2006 KLA TENCOR CS20
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器,635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长,0.1μm宽,50埃;深。 | - 坑: 直径2...
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2008 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM530
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新的 | - cv计噪音测试(肖特基二极管测试): 1 std(% ) <0.167%。 | - 摩斯晶圆面积测试: 1 std(% ) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 1...
天安市, 韩国NANOMETRICS 210
二手
- 品牌: Nanometrics
- 型号: 210
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国1996 KLA TENCOR P-12
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-12
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 测量范围: 6.5㎛,26㎛,131㎛. | - 扫描长度: 150 毫米。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 0.05 ~50 毫克。 | - 操作系统 windows 3.1,- 软件/硬件版本: 3.1.9 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
天安市, 韩国KLA TENCOR P-16
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-16
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 率领: 微型云台 II - XR(13、131、1048㎛ 范围) | 负载卡盘: ~8英寸,带精密定位器 | 测针尖(绿色): 2㎛ 半径 | 抓帧器: USB摄像机类型 | 权力: 100~240V,最大6A。 | P.c: 峰值-735,内存 1GB,硬盘 19GB | Os: Windows XP | S/w: 剖析器 v7.1
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- 天安市, 韩国
1997 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM5200
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
天安市, 韩国N&K N&K 1700
二手
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.波长范围: 190nm ~1000nm (UV/VIS) | *.斑点大小: 50±5 μm | *.舞台运动控制: NI NuDrive多轴控制器 | *.x-y阶段行程: 200x200 mm
天安市, 韩国2006 N&K NK5300
二手
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率,偏振分析单元,光斑大小: 50um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
天安市, 韩国2007 N&K N&K Little foot 8000 CD
二手
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 带光点尺寸的分析器单元: 50um | S/w版本: 10.5.3.0 | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
天安市, 韩国1998 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM150
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 展开的电阻探头 | 抵抗力: 1 1至>E10 | 电阻率: 10-⁴Ωcm~4x10⁴ | 掺杂物浓度: >10²¹cm-³至< 10¹cm-³ | - 运营系统: MS DOS 3.3 | - 操作软件: D150版本5.12
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