二手测试与测量

MKS，P99A-28229，压力控制器
- 品牌: MKS
序号: 10XX09 | 数量: 1 | 设备细节: 压力控制器 | 设备: 压力控制器 | 描述: 气体 N2，量程 1000SCCM，1000 托
水原市, 韩国
2003 NIKON，OPTIPHOT-300D，检测显微镜
- 品牌: Nikon
- 型号: Optiphot 300
序号: 625331 | 数量: 1 | 设备细节: 检查显微镜 | 设备: 检查显微镜 | 描述: 14x10 平台，晶片 12"，100-120V，3A，50/60Hz
水原市, 韩国
2012 KOH YOUNG，KY-7100，三维自动光学检测机
- 品牌: Koh Young
- 型号: KY7100
序号: AOI-S001 | 数量: 1 | 设备细节: 三维自动光学检测机 | 设备: 三维自动光学检测机 | 描述: 208 伏交流，单相，50/60 赫兹
水原市, 韩国
2010 AIT，AVIS-5000N，LED 晶圆检测系统
- 品牌: AIT
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: LED 晶圆检测系统 | 设备: LED 晶圆检测系统 | 描述: 晶圆 2~6"
水原市, 韩国
1994 KLA TENCOR SFS 6200
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Surfscan 6200
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4 - 8英寸。 | - 软件版本: 2.1
天安市, 韩国
NIKON 尼康 Eclipse L200 + NWL641
- 品牌: Nikon
- 型号: NWL641
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4~6" | - 目标: 5倍，10倍，20倍，50倍，100倍 | - 检查模式: 微观和倾斜宏观检查
天安市, 韩国
1996 Nanometrics Nanospec8000
- 品牌: Nanometrics
- 型号: Nanospec
过程: MET | 航运: 淘宝网
韩国
2011 HMI eScan 400
- 品牌: HMI
- 型号: Escan 400
晶片尺寸: 12" | 过程: 电子横梁缺陷检查 | 航运: 淘宝网
韩国
正泰电源智能盒 - CHINT POWER
上海市, 中国
2005 RUDOLPH MP-300
- 品牌: Rudolph
- 型号: MP 300
晶片尺寸: 12 | 航运: 淘宝网
京畿道, 韩国
2002 NANOMETRICS Nanospec 9300
- 品牌: Nanometrics
- 型号: Nanospec 9300
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 头部类型: 紫外线DIO | 录像机: RS170(B/W)
天安市, 韩国
2011 KLA TENCOR Candela 8600
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8600
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
天安市, 韩国
2012 KLA TENCOR Candeal 8620
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | - 输...
天安市, 韩国
2001 尼康 NWL641M
- 品牌: Nikon
- 型号: NWL641
晶片尺寸: 4~6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 检查模式: 微观和倾斜宏观检查
天安市, 韩国
2000 KLA TENCOR VIPER 2410
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Viper 2410
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务
天安市, 韩国