半导体制造设备 » 忠清南道

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二手 半导体制造设备 在 忠清南道, 韩国

  • SDI/SEMILAB FAaST 230

    SDI/SEMILAB FAaST 230

    • 品牌: Semilab
    • 型号: FAAST 230

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 2010 KLA TENCOR Candela CS20

    2010 KLA TENCOR Candela CS20

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: CANDELA CS20

    晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑: 直径...

    天安市, 韩国
  • 2017 KLA TENCOR P-17

    2017 KLA TENCOR P-17

    • 品牌: KLA-Tencor

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 最大 8 英寸 | - 测针尖（绿色）: 2um 半径 | - 台阶高度: 纳米至 1000µ;m | - 台阶高度重复性: 4 Å; ( 1σ, 1µ;m ) | - 可编程测针测力 0.5 - 50 毫克（选件: 0.03 ~50 毫克 )

    天安市, 韩国
  • 2002 KLA TENCOR P-15

    2002 KLA TENCOR P-15

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-15

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 测针尖（绿色）: 2um 半径 | - 测量范围: 13㎛,65㎛,327㎛. | - 扫描长度: 205毫米。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~50毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - s/w版本: 6.41 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 220 伏/50 ...

    天安市, 韩国
  • Microsense Microsense 6033T

    Microsense Microsense 6033T

    • 品牌: Microsense

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM2000

    SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM2000

    • 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.

    晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最低 65 µ;;米（标准） | - ...

    天安市, 韩国
  • 2006 N&K N&K 5000-CD

    2006 N&K N&K 5000-CD

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • FISCHIONE 型号 1010

    FISCHIONE 型号 1010

    • 品牌: FISCHIONE

    晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样

    天安市, 韩国
  • 应用材料 AMC 7700

    应用材料 AMC 7700

    • 品牌: Amat

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 硅片上的外延层生长 | *. 控制台配置: ?

    天安市, 韩国
  • 1996 BROOKS METARA 7200

    1996 BROOKS METARA 7200

    • 品牌: Brooks

    晶片尺寸: 8" | 过程: 溢价 | 航运: 淘宝网

    天安市, 韩国
  • 2006 N&K NK5300

    2006 N&K NK5300

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率，偏振分析单元，光斑大小: 50 um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓

    天安市, 韩国
  • 2007 N&K N&K 小脚 8000

    2007 N&K N&K 小脚 8000 CD

    • 品牌: N&K

    晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 带光点尺寸的分析器单元: 50 um | S/w版本: 10.5.3.0 | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓

    天安市, 韩国
  • 1993 KLA TENCOR FLX2320

    1993 KLA TENCOR FLX2320

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: FLX-2320

    晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -晶片: 6" | -速率: 5秒，用于150毫米晶圆。 | -范围: 2x10E7 ~ 4x10E7 达因/厘米2 | -均方根噪音: 0.0001 mE-1（半径=10,000米） | -决心: 0.00003mE-1(33公里) | -min scan setp: 0.02mm | -每次扫描的最高分: 1250 | -最小半径: 2.0m(for...

    天安市, 韩国
  • 2009 KLA TENCOR CS10V

    2009 KLA TENCOR CS10V

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: CS10V

    晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直...

    天安市, 韩国
  • 2006 KLA TENCOR CS20

    2006 KLA TENCOR CS20

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: CS20

    晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直径2...

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