HGTECH 晶圆缺陷检测系列 半导体晶圆缺陷检测设备
新
- 品牌: Hgtech
物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸;4",6"(带蓝色薄膜的铁架)。 | 箱子的数量: 2个 | 装载和卸载方法: 机器人,测绘扫描 | 运动平台: X行程200mm,重复精度10μm Y行程45mm,重复精度10μm Z行程15mm,重复精度5μm | 能力: 4", 25wph 6", 20wph | 探测性能: 测试精度;3μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 微透镜 | 光源: 获得专利的光源...
武汉市, 中国- 桃园市, 台湾
AIS40X系列 2D光学检测设备
新
- 品牌: Shenzhen Bihui Electronic Technology
深圳市, 中国VIEW X2000离线检测设备
新
- 品牌: VIEW
深圳市, 中国Tektronix 372
二手
- 品牌: Tektronix
- 型号: 372
广东省, 中国泰克 371A/B
二手
- 品牌: Tektronix
- 型号: 371A
广东省, 中国Keysight / Agilent B1500A
二手
- 品牌: Agilent - Keysight
- 型号: B1500A
广东省, 中国- 深圳市, 中国
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