二手 测试与测量

SECRON IP 300

• 二手

• 品牌: SECRON

晶片尺寸: 12" | 过程: 探测器 | 航运: EXW`

2007 RUDOLPH RUDOLPH MP1-300

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: MP 300

晶片尺寸: 12" | 过程: 薄膜厚度测量 | 航运: 淘宝网

2009 RUDOLPH MP300

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: MP 300

晶片尺寸: 8" | 过程: 薄膜厚度测量 | 航运: 淘宝网

1997 KLA AIT

• 二手

• 品牌: KLA-Tencor
• 型号: AIT

晶片尺寸: 8" | 过程: MET | 航运: 淘宝网

LEICA INM300 Wafer Inspection 晶圆检查

• 二手

• 品牌: Leica

2004 RUDOLPH AXI-S

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: AXI

晶片尺寸: 12" | 过程: 宏观检查 | 航运: 淘宝网

NIKON AMI-3500

• 二手

• 品牌: Nikon
• 型号: AMI-3500

晶片尺寸: 12" | 航运: 淘宝网

2008 RUDOLPH MP-300XCU

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: MP 300

航运: 淘宝网

2001 RUDOLPH MP-300

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: MP 300

晶片尺寸: 12 | 航运: 淘宝网

2005 RUDOLPH AXI_S

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: AXI

晶片尺寸: 12" | 过程: 宏观检查系统 | 航运: 淘宝网

2004 RUDOLPH AXI_S

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: AXI

晶片尺寸: 12" | 过程: 宏观检查系统 | 航运: 淘宝网

RUDOLPH AXI935D

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: AXI 935

晶片尺寸: 12" | 过程: AVI | 航运: EXW`

RUDOLPH AXI-S

• 二手

• 品牌: Rudolph
• 型号: AXI

晶片尺寸: 12" | 过程: 宏观检查 | 航运: 淘宝网

PCBA离线贴片光学检测设备

• 新

• 品牌: Suzhou Turui Intelligent Technology

HGTECH 缺陷检测系列 半导体基板缺陷检测设备

• 新

• 品牌: Hgtech

物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸；标准4"，6"（可扩展4"-8"）。 | 箱子的数量: 双层，14件 | 装载和卸载方法: 机器人，测绘扫描 | 运动平台: Y行程350mm，重复精度10μm Z行程8mm，重复精度5μm | 能力: 4", 140wph 6", 120wph | 探测性能: 测试精度；7μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 高清工业镜头 | 光源: 获得专利的光源 | 环境要求...