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2009 固态测量公司 SSM 495
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° - ...
天安市, 韩国1998 PROMETRIX RS35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | * 软件/硬件版本: ST-6.51（配备 StatTrax 的 OmniMap RS55） | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
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2008 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM530
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新的 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° ...
天安市, 韩国1997 SOLID STATE MEASUREMENT INC. SSM5200
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
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2004 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM 2000 Nano SRP
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最小 65 µ;m（标准） | - 探...
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2005 KLA TENCOR OSA6100
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑:...
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