tokyo electron ts 3286-010215-11 cable asu camera wdfdf (br2.1b4)
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- 品牌: Tokyo Electron - TEL
样式: TS 3286-010215-11
$1,283 USD拉斯多尼, 爱尔兰Tray盘转编带
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设备功能: 破损、划伤、印字等不良,到位检测,满料检测,数据统计。 | 尺寸: 1550*1100*1600mm(长宽高) | 重量: 约600KG | 上料方式: 振动盘 | 载带宽度: 8/12/16mm | 气压: 0.5MPa | 功率: 1500W | 适应产品: 滤波器、电感、QFN、IC等半导体元器件。 | Uph: 40K/H(与产品及功能需求有关 | 封带方式: 热封/自封 | 操作方式: 触摸屏 | ...
深圳市, 中国测试编带一体机
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适应产品: 滤波器、电感、QFN、IC等半导体元器件。 | Uph: 40K/H(与产品及功能需求有关) | 封带方式: 热封/自封 | 操作方式: 触摸屏 | 载带宽度: 8/12/16mm | 统计功能: 生产数据统计,良品率统计 | 视觉系统: 装填检测、严重破损、脏污等检测 | 补料方式: 自动补料 | 上料方式: 振动盘 | 测试功能: 极性测试 MTBA≥1Hr | 装填准确性: 100% | 检测准确性: ...
深圳市, 中国Trumpf TruPlasma Coax 3010 10KW 射频发生器 1790270 和电源控制器 1697081
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- 品牌: Trumpf
样式: 1697081 | 生产国家/地区: 德国 | 设备类型: 射频发电机
$21,099 USD拉斯多尼, 爱尔兰- 上海市, 中国
S8030 3D solder paste inspector (SPI)
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测量原理: 三维白光 PSLM PMP(可编程空间光调制,俗称摩尔条纹技术) | 测量: 体积、面积、高度、XY 偏移、形状 | 检出缺陷: 缺印、锡不足、锡过多、桥接、偏移、形状缺陷、表面污染 | 摄像像素: 5M | 镜头类型: 远心镜头 | 镜头分辨率: 16.5微米(可选 13.5微米) | 视场角: 42*33.5 毫米 | 准确性: XY 分辨率:1 微米;高度:0.37 微米 | 重复性: 高度:≤1 微米...
苏州市, 中国S8080 3D Solder Paste Inspection Machine (3D SPI)
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测量原理: 三维白光 PSLM PMP(可编程空间光调制,俗称摩尔条纹技术) | 测量: 体积、面积、高度、XY 偏移、形状 | 检出缺陷: 缺印、锡不足、锡过多、桥接、偏移、形状缺陷、表面污染 | 摄像像素: 5M | 镜头类型: 远心镜头 | 镜头分辨率: 16微米(可选 13微米) | 视场角: 40.9*32.7 毫米 | 准确性: XY 分辨率:1 微米;高度:0.37 微米 | 重复性: 高度:≤1 微米(3...
苏州市, 中国PCBA离线贴片光学检测设备
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- 品牌: Suzhou Turui Intelligent Technology
苏州市, 中国HGTECH 缺陷检测系列 半导体基板缺陷检测设备
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- 品牌: Hgtech
物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸;标准4",6"(可扩展4"-8")。 | 箱子的数量: 双层,14件 | 装载和卸载方法: 机器人,测绘扫描 | 运动平台: Y行程350mm,重复精度10μm Z行程8mm,重复精度5μm | 能力: 4", 140wph 6", 120wph | 探测性能: 测试精度;7μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 高清工业镜头 | 光源: 获得专利的光源 | 环境要求...
武汉市, 中国HGTECH 晶圆缺陷检测系列 半导体晶圆缺陷检测设备
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- 品牌: Hgtech
物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸;4",6"(带蓝色薄膜的铁架)。 | 箱子的数量: 2个 | 装载和卸载方法: 机器人,测绘扫描 | 运动平台: X行程200mm,重复精度10μm Y行程45mm,重复精度10μm Z行程15mm,重复精度5μm | 能力: 4", 25wph 6", 20wph | 探测性能: 测试精度;3μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 微透镜 | 光源: 获得专利的光源...
武汉市, 中国- 桃园市, 台湾
- 深圳市, 中国
AIS40X系列 2D光学检测设备
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- 品牌: Shenzhen Bihui Electronic Technology
深圳市, 中国VIEW X2000离线检测设备
新
- 品牌: VIEW
深圳市, 中国