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2017 KLA TENCOR P-17
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 最大 8 英寸 | - 测针尖（绿色）: 2um 半径 | - 台阶高度: 纳米至 1000µ;m | - 台阶高度重复性: 4 Å; ( 1σ, 1µ;m ) | - 可编程测针测力 0.5 - 50 毫克（选件: 0.03 ~50 毫克 )
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2005 KLA TENCOR OSA6100
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑:...
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2006 KLA TENCOR OSA6100
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50Å;;深。 | - 坑:...
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2010 SDI/SEMILAB MCV2500
- 品牌: Semilab
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 std(% ) <0.167%。 | - 摩斯晶圆面积测试: 1 std(% ) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | ...
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1996 NANOMETRICS 2100
- 品牌: Nanometrics
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
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1995 KLA TENCOR P-10
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-10
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | - 测量范围: 13㎛,300㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ，4A。
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KLA TENCOR P-2
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-2
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
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2006 N&K NK5300
- 品牌: N&K
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | Duv - vis - nir: 190纳米至1000纳米 | 反射率，偏振分析单元，光斑大小: 50um | - 薄膜: 薄膜厚度/n和k | - 幼儿教育: 深度/CD/轮廓
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