2004 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM 2000 Nano SRP
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最小 65 µ;m（标准） | - 探...
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2010 SDI/SEMILAB MCV2500
- 品牌: Semilab
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电...
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2008 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM530
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新的 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 STD(%) <0.167% | - 摩斯晶圆面积测试: 1 STD(%) <0.1% | ■ 电容: 0.5~ 2000pF | 电导率: 0.5 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | 应力电压: ± 250V | ■ 环境温度: 18° ...
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1997 SOLID STATE MEASUREMENT INC. SSM5200
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
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2006 KLA TENCOR CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直径2...
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1997 KLA TENCOR P-11
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-11
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 测量范围: 13㎛,65㎛,327㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~ 50mg。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ，4A。
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KLA TENCOR P-2
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-2
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
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2006 SONIX Quantum 350
- 品牌: Sonix
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 成像分辨率: 0.5微米 | 扫描速度: 最大。1000毫米/秒 | 扫描区: 350 毫米 x 350 毫米
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1992 PROMETRIX RS 35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
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1993 KLA TENCOR FLX2320
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: FLX-2320
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -晶片: 6" | -速率: 5秒，用于150毫米晶圆。 | -范围: 2x10E7 ~ 4x10E7 达因/厘米2 | -均方根噪音: 0.0001 mE-1（半径=10,000米） | -决心: 0.00003mE-1(33公里) | -min scan setp: 0.02mm | -每次扫描的最高分: 1250 | -最小半径: 2.0m(for...
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2009 KLA TENCOR CS10V
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS10V
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；深。 | - 坑: 直...
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