扫描声学断层扫描（SAT），也叫扫描声学显微镜（SAM），是一种通过测量超声波的反射速度和能量来分析材料的方法，超声波在一定厚度的材料中传输。
测试模式：
A-扫描（超声信号）。
B-扫描（二维反射截面检测/成像）。
C-扫描（二维反射平面检测/成像）。
贯通扫描（穿透式检测/成像）。
应用/特点：
通常用于检测封装内部的分层或裂缝，SAT能够检测到低至0.13μm的微小缝隙。
IC封装水平的结构分析
PCBA层面上的IC封装质量
PCB/IC基材结构分析
晶圆级结构分析
WLCSP结构分析
CMOS结构分析
**操作，但缺少传感器和驱动电缆
