MKS，P99A-28229，压力控制器
二手
- 品牌: MKS
序号: 10XX09 | 数量: 1 | 设备细节: 压力控制器 | 设备: 压力控制器 | 描述: 气体 N2，量程 1000SCCM，1000 托
水原市, 韩国
2003 NIKON，OPTIPHOT-300D，检测显微镜
二手
- 品牌: Nikon
- 型号: Optiphot 300
序号: 625331 | 数量: 1 | 设备细节: 检查显微镜 | 设备: 检查显微镜 | 描述: 14x10 平台，晶片 12"，100-120V，3A，50/60Hz
水原市, 韩国
2003 尼康，OPTIPHOT-300D，检测显微镜
二手
- 品牌: Nikon
- 型号: Optiphot 300
序号: 625331 | 数量: 1 | 设备细节: 检查显微镜 | 设备: 检查显微镜 | 描述: 14x10 平台，晶片 12"，100-120V，3A，50/60Hz
水原市, 韩国
2010 AIT，AVIS-5000N，LED 晶圆检测系统
二手
- 品牌: AIT
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: LED 晶圆检测系统 | 设备: LED 晶圆检测系统 | 描述: 晶圆 2~6"
水原市, 韩国
2012 KOH YOUNG，KY-7100，三维自动光学检测机
二手
- 品牌: Koh Young
- 型号: KY7100
序号: AOI-S001 | 数量: 1 | 设备细节: 三维自动光学检测机 | 设备: 三维自动光学检测机 | 描述: 208 伏交流，单相，50/60 赫兹
水原市, 韩国
1994 KLA TENCOR SFS 6200
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Surfscan 6200
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4 - 8英寸。 | - 软件版本: 2.1
天安市, 韩国
NIKON Nikon Eclips L200 + NWL641
二手
- 品牌: Nikon
- 型号: NWL641
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4~6" | - 目标: 5倍，10倍，20倍，50倍，100倍 | - 检查模式: 微观和倾斜宏观检查
天安市, 韩国
2000 KLA TENCOR AIT AIT XP+(Fusion)
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: AIT XP
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 晶圆尺寸: 200mm | Os: 微软视窗 NT 4.0 | 应用软件: 版本 6.3.24.3 ( 创建时间 2006.8 ) | 激光: 75mW 488nm 氩离子激光器 | - cda: 1/4" , 最小 90psi | - 真空: 1/4 英寸 20 英寸汞柱 | .（主）: 208VAC，3 相，4 线制，频率 50/60Hz | .（图...
天安市, 韩国
天安市, 韩国
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上海市, 中国
S8030 3D solder paste inspector (SPI)
新
测量原理: 三维白光 PSLM PMP（可编程空间光调制，俗称摩尔条纹技术） | 测量: 体积、面积、高度、XY 偏移、形状 | 检出缺陷: 缺印、锡不足、锡过多、桥接、偏移、形状缺陷、表面污染 | 摄像像素: 5M | 镜头类型: 远心镜头 | 镜头分辨率: 16.5微米（可选 13.5微米） | 视场角: 42*33.5 毫米 | 准确性: XY 分辨率：1 微米；高度：0.37 微米 | 重复性: 高度：≤1 微米...
苏州市, 中国
S8080 3D Solder Paste Inspection Machine (3D SPI)
新
测量原理: 三维白光 PSLM PMP（可编程空间光调制，俗称摩尔条纹技术） | 测量: 体积、面积、高度、XY 偏移、形状 | 检出缺陷: 缺印、锡不足、锡过多、桥接、偏移、形状缺陷、表面污染 | 摄像像素: 5M | 镜头类型: 远心镜头 | 镜头分辨率: 16微米（可选 13微米） | 视场角: 40.9*32.7 毫米 | 准确性: XY 分辨率：1 微米；高度：0.37 微米 | 重复性: 高度：≤1 微米（3...
苏州市, 中国
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