Building Filters
奥林巴斯 MX61L-F
- 品牌: Olympus
- 型号: MX61L-F
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 目镜: WH10x-H/22 | 照明: 明场/暗场（BF/DF）
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LEICA Leica DM IRM
- 品牌: Leica
- 型号: DM IRM
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 目镜: G20X | 目标: 5X/0.15 BD，HC PL 氟焦油 | 检偏器和偏振器: ICR/P、IC/P
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奥林巴斯 Olympus BH2-UMA 显微镜
- 品牌: Olympus
- 型号: BH-2
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 良好 | - 目标: 5x /10x /20x /50x /100x | - 作品: 10x
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1998 PROMETRIX RS35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | * 软件/硬件版本: ST-6.51（配备 StatTrax 的 OmniMap RS55） | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
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2010 KLA TENCOR Candela CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CANDELA CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器，635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑: 直径...
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2000 KLA TENCOR AIT AIT XP+(Fusion)
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: AIT XP
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 晶圆尺寸: 200mm | Os: 微软视窗 NT 4.0 | 应用软件: 版本 6.3.24.3 ( 创建时间 2006.8 ) | 激光: 75mW 488nm 氩离子激光器 | - cda: 1/4" , 最小 90psi | - 真空: 1/4 英寸 20 英寸汞柱 | .（主）: 208VAC，3 相，4 线制，频率 50/60Hz | .（图...
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SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM2000
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最低 65 µ;;米（标准） | - ...
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2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I
- 品牌: Valley
- 型号: JVX6200I
晶片尺寸: 12" | 过程: X射线计量学（X射线反射率） | 航运: 淘宝网
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