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二手测试和测量设备在韩国

2011 KLA TENCOR Candela 8620
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Candela 8620
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 激光器: 斜视(50mW, 405nm), 正常(85mW, 660nm) | - 光斑大小: 5㎛ x 4㎛. | - 粒子检测: 小于0.08㎛的硅衬底。 | - 划伤: 0.1㎛宽，1~2纳米深。 | - 坑坑洼洼: 直径20㎛，50Å；；深。 | - 污渍: 直径20㎛，10Å；；厚。 | - 基层厚度: 350㎛ ~ 1,300㎛. | -...
天安市, 韩国
LG，二维测量机
- 品牌: LG
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 二维测量机 | 设备: 二维测量机 | 描述: 尺寸 2000x2000mm
水原市, 韩国
RUDOLPH AXI-S
- 品牌: Rudolph
- 型号: AXI
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
天安市, 韩国
RUDOLPH AXI-930
- 品牌: Rudolph
- 型号: AXI 930
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 原样
天安市, 韩国
2013 Maru lnc, wvtr 测量设备
- 品牌: MARU LNC
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: WVTR 测量设备 | 设备: WVTR 测量设备 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
三丰，SV-3100，形状测量
- 品牌: Mitutoyo
序号: 610106 | 数量: 1 | 设备细节: 形式测量 | 设备: 形式测量 | 描述: 测量范围 X 轴 100 毫米（4 英寸）/200 毫米（8 英寸）
水原市, 韩国
薄膜度量、F50、薄膜厚度测量
- 品牌: Film Metrics
序号: 12H011 | 数量: 1 | 设备细节: 薄膜厚度测量 | 设备: 薄膜厚度测量 | 描述: 厚度范围 20nm~70㎛
水原市, 韩国
SOKKIA，PCM-1600，二维测量机
- 品牌: Sokkia
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 二维测量机 | 设备: 二维测量机 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
三丰，SV-3000CNC，形状测量
- 品牌: Mitutoyo
序号: 800011104 | 数量: 1 | 设备细节: 形式测量 | 设备: 形式测量 | 描述: X 轴范围 8 英寸/200 毫米
水原市, 韩国
2010 KIMSOPTEC，LENSCAN-LS40，厚度测量机
- 品牌: KIMSOPTEC
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 厚度测量仪 | 设备: 厚度测量仪 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
2017 PIMACS、Neooptical5600、光谱响应度测量系统
- 品牌: PIMACS
序号: NOK170001 | 数量: 1 | 设备细节: 光谱响应度测量系统 | 设备: 光谱响应度测量系统 | 描述: AC220V，50/60Hz
水原市, 韩国
2002 Image Expert，001-907540mmx，精密影像测量仪
- 品牌: Image Xpert
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 精密影像测量仪 | 设备: 精密影像测量仪 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
2003 年固态测量 INC，SSM5100，汞探针 CV 系统
- 品牌: Solid State Measurement INC
序号: 130 | 数量: 1 | 设备细节: 水星探针履带系统 | 设备: 水星探针履带系统 | 描述: 晶圆 8"，Hgc02
水原市, 韩国
2010 K-MAC，ST4000-DLX，薄膜厚度测量仪
- 品牌: K-MAC
序号: ST4KM1003064 | 数量: 1 | 设备细节: 薄膜厚度测量 | 设备: 薄膜厚度测量
水原市, 韩国
OLYMPUS，STM6-LM，测量显微镜
- 品牌: Olympus
- 型号: STM6-LM
序号: 5J16677 | 数量: 1 | 设备细节: 测量显微镜 | 设备: 测量显微镜 | 描述: 平台 250x150㎛、5x、10x、20x、50x、100x 镜头
水原市, 韩国