韩国
韩国
韩国
韩国
韩国
韩国
PCBA离线贴片光学检测设备
- 品牌: Suzhou Turui Intelligent Technology
苏州市, 中国
HGTECH 晶圆缺陷检测系列 半导体晶圆缺陷检测设备
- 品牌: Hgtech
物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸;4",6"(带蓝色薄膜的铁架)。 | 箱子的数量: 2 pcs | 装载和卸载方法: 机器人,测绘扫描 | 运动平台: X行程200mm,重复精度10μm Y行程45mm,重复精度10μm Z行程15mm,重复精度5μm | 能力: 4", 25wph 6", 20wph | 探测性能: 测试精度;3μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 微透镜 | 光源: 获得专利...
武汉市, 中国
HGTECH 缺陷检测系列 半导体基板缺陷检测设备
- 品牌: Hgtech
物品: 主要参数 | 一般参数: 晶片尺寸;标准4",6"(可扩展4"-8")。 | 箱子的数量: 双层,14件 | 装载和卸载方法: 机器人,测绘扫描 | 运动平台: Y行程350mm,重复精度10μm Z行程8mm,重复精度5μm | 能力: 4", 140wph 6", 120wph | 探测性能: 测试精度;7μm | 摄像机: 高分辨率工业相机 | 镜头: 高清工业镜头 | 光源: 获得专利的光源 | 环境要求...
武汉市, 中国
桃园市, 台湾
VIEW X2000离线检测设备
- 品牌: VIEW
深圳市, 中国
AIS40X系列 2D光学检测设备
- 品牌: Shenzhen Bihui Electronic Technology
深圳市, 中国
深圳市, 中国
2005 纳米量测 Nanospec 6100
- 品牌: Nanometrics
- 型号: Nanospec 6100
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | -;物体(自动左轮手枪): 5x、10x、15xuv、40x | -测量范围: 25-;200,000 Å; | -;软件/硬件: 2.0 版(适用于 Windows 的 Nanospec 6100)
天安市, 韩国
1994 KLA TENCOR SFS 6200
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: Surfscan 6200
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 4 - 8英寸。 | - 软件版本: 2.1
天安市, 韩国
