2012 KLA TENCOR P16+
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P16
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -；触控笔尖（绿色）: 2 um 半径 | -操作系统: Windows XP | -；软件/硬件: 版本 7.40.07 | -重复性: 6 Å；；或 0.1%（1 秒）、
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2004 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM 2000 Nano SRP
二手
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 传播阻力动态范围: 1Ω 至 > 10Ω | - 电阻率: 10-⁴~ 4x10⁴Ωcm | - 浓度: E11 cm-3 ~ E21 cm-3 | - 操作系统: 窗口 XP | - 图像采集: Matrox Pulsar 图像采集卡/视频控制器 | - 应用软件: NanoSRP" 软件 | - 探针间距: 最小 65 µ;m（标准） | - 探...
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2005 KLA TENCOR OSA6100
二手
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50埃；；深。 | - 坑:...
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2006 KLA TENCOR OSA6100
二手
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 2 ~ 6英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | 照明源: 25毫瓦的激光，405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长，0.1μm宽，50Å;;深。 | - 坑:...
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2010 SDI/SEMILAB MCV2500
二手
- 品牌: Semilab
晶片尺寸: 12" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - cv计噪音测试（肖特基二极管测试）: 1 std(% ) <0.167%。 | - 摩斯晶圆面积测试: 1 std(% ) <0.1% | ■ 电容: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz) | 电导率: 0 ~ 2000μS | 直流偏置电压: ± 250V | ■ 斜率: 0 ~ 50 V/s连续可变 | ...
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1996 NANOMETRICS 2100
二手
- 品牌: Nanometrics
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
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1995 KLA TENCOR P-10
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-10
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | - 测量范围: 13㎛,300㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ，4A。
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KLA TENCOR P-2
二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-2
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台（最大样品量: 254x254mm）。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
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