半导体制造设备 » 计量/检验（半导体）

Building Filters

37

二手 表面

  • no-image_zh.png

    SCIENTECH(SDI) SDI Fast230

    • 品牌: SCIENTECH(SDI)

    数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    SCIENTECH(SDI) SDI Fast230

    • 品牌: SCIENTECH(SDI)

    晶片尺寸: 8" | 数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    TOKYO SEIMITSU Surfcom 578A

    • 品牌: Accretech - Tokyo Seimitsu - TSK
    • 型号: Surfcom 578A

    晶片尺寸: 200mm | 数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    TOKYO SEIMITSU DFG-840

    • 品牌: Accretech - Tokyo Seimitsu - TSK

    晶片尺寸: 200mm | 数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    KLA Tencor 6220

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: 6220

    数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    Vecco D5000

    • 品牌: Vecco

    晶片尺寸: 200mm | 数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    Vecco D5000

    • 品牌: Vecco

    晶片尺寸: 200mm | 数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    CENSOR ANS 100

    • 品牌: CENSOR

    数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    KLA Tencor 7700

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: 7700

    数量: 1 | 交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • no-image_zh.png

    KLA Tencor MicroXAM-800

    • 品牌: KLA-Tencor

    交付时间: 立即行动

    龙仁市, 韩国
  • TOKYO SEIMITSU SURFCOM 表面粗糙度仪

    TOKYO SEIMITSU SURFCOM 表面粗糙度仪

    • 品牌: Accretech - Tokyo Seimitsu - TSK
    • 型号: Surfcom

    爱知县, 日本
  • VEECO，DEKTAK6M，表面轮廓仪

    VEECO，DEKTAK6M，表面轮廓仪

    • 品牌: Veeco - Sloan
    • 型号: Dektak

    序号: 34542 | 数量: 1 | 设备细节: 表面分析器 | 设备: 表面分析器 | 描述: 扫描长度 50㎛~30mm，晶片直径 150mm

    水原市, 韩国
  • KLA TENCOR，P-10，表面轮廓仪（Windows DOS）

    KLA TENCOR，P-10，表面轮廓仪（Windows DOS）

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-10

    序号: 03970318 | 数量: 1 | 设备细节: 表面轮廓仪（Windows DOS） | 设备: 表面轮廓仪 | 描述: Windows DOS

    水原市, 韩国
  • KLA TENCOR，P-15，表面轮廓仪（Windows NT）

    KLA TENCOR，P-15，表面轮廓仪（Windows NT）

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-15

    序号: 0704120887 | 数量: 1 | 设备细节: 表面剖析器（windows NT） | 设备: 表面分析器 | 描述: 视窗新技

    水原市, 韩国
  • KLA TENCOR、P-15、表面轮廓仪（windows XP 专业版）

    KLA TENCOR、P-15、表面轮廓仪（windows XP 专业版）

    • 品牌: KLA-Tencor
    • 型号: P-15

    序号: 0803105587 | 数量: 1 | 设备细节: 表面剖析器（windows XP 专业版） | 设备: 表面分析器 | 描述: Windows XP 专业版

    水原市, 韩国
123

概述

半导体计量涉及对半导体晶圆和设备的测量和分析。该类别包括用于确保半导体制造过程的精度和准确性的工具和设备。这些仪器对于质量控制至关重要，有助于检测缺陷并确保设备符合严格的行业标准。

常见问题解答

购买半导体计量设备时应考虑哪些因素？

考虑设备的测量精度、分辨率及其与特定半导体工艺的兼容性。评估供应商的支持服务以及设备与现有系统集成的难易程度。

如何确保半导体计量设备的安全运输？

使用擅长处理敏感和高精度设备的专业运输服务。确保设备包装良好，并配有适当的缓冲材料和处理说明。

半导体计量设备的维护计划是怎样的？

定期校准和检查是必不可少的。遵循制造商的预防性维护指南，包括清洁光学部件和检查软件更新。保持所有维护活动的记录。