半导体制造设备 » 计量/检验（半导体）

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二手显微镜和其他

NANOMETRICS 210
- 品牌: Nanometrics
- 型号: 210
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国
1996 NANOMETRICS 2100
- 品牌: Nanometrics
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国
1998 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM150
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 展开的电阻探头 | 抵抗力: 1 1至>E10 | 电阻率: 10-⁴Ωcm~4x10⁴ | 掺杂物浓度: >10²¹cm-³至< 10¹cm-³ | - 运营系统: MS DOS 3.3 | - 操作软件: D150版本5.12
天安市, 韩国

概述

半导体计量涉及对半导体晶圆和设备的测量和分析。该类别包括用于确保半导体制造过程的精度和准确性的工具和设备。这些仪器对于质量控制至关重要，有助于检测缺陷并确保设备符合严格的行业标准。

常见问题解答

购买半导体计量设备时应考虑哪些因素？

考虑设备的测量精度、分辨率及其与特定半导体工艺的兼容性。评估供应商的支持服务以及设备与现有系统集成的难易程度。

如何确保半导体计量设备的安全运输？

使用擅长处理敏感和高精度设备的专业运输服务。确保设备包装良好，并配有适当的缓冲材料和处理说明。

半导体计量设备的维护计划是怎样的？

定期校准和检查是必不可少的。遵循制造商的预防性维护指南，包括清洁光学部件和检查软件更新。保持所有维护活动的记录。