半导体制造设备 » 计量/检验（半导体）

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二手工具和硬件

2017 KLA TENCOR P-17
- 品牌: KLA-Tencor
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 晶片尺寸: 最大 8 英寸 | - 测针尖（绿色）: 2um 半径 | - 台阶高度: 纳米至 1000µ;m | - 台阶高度重复性: 4 Å; ( 1σ, 1µ;m ) | - 可编程测针测力 0.5 - 50 毫克（选件: 0.03 ~50 毫克 )
天安市, 韩国
1998 PROMETRIX RS35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | * 软件/硬件版本: ST-6.51（配备 StatTrax 的 OmniMap RS55） | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
天安市, 韩国
1996 NANOMETRICS 2100
- 品牌: Nanometrics
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国
NANOMETRICS 210
- 品牌: Nanometrics
- 型号: 210
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国
1998 SOLID STATE MEASRUEMENT INC. SSM150
- 品牌: SOLID STATE MEASRUEMENT INC.
晶片尺寸: 其他 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 展开的电阻探头 | 抵抗力: 1 1至>E10 | 电阻率: 10-⁴Ωcm~4x10⁴ | 掺杂物浓度: >10²¹cm-³至< 10¹cm-³ | - 运营系统: MS DOS 3.3 | - 操作软件: D150版本5.12
天安市, 韩国
1992 PROMETRIX RS 35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
天安市, 韩国
2012 KLA TENCOR P16+
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P16
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -；触控笔尖（绿色）: 2 um 半径 | -操作系统: Windows XP | -；软件/硬件: 版本 7.40.07 | -重复性: 6 Å；；或 0.1%（1 秒）、
天安市, 韩国

概述

半导体计量涉及对半导体晶圆和设备的测量和分析。该类别包括用于确保半导体制造过程的精度和准确性的工具和设备。这些仪器对于质量控制至关重要，有助于检测缺陷并确保设备符合严格的行业标准。

常见问题解答

购买半导体计量设备时应考虑哪些因素？

考虑设备的测量精度、分辨率及其与特定半导体工艺的兼容性。评估供应商的支持服务以及设备与现有系统集成的难易程度。

如何确保半导体计量设备的安全运输？

使用擅长处理敏感和高精度设备的专业运输服务。确保设备包装良好，并配有适当的缓冲材料和处理说明。

半导体计量设备的维护计划是怎样的？

定期校准和检查是必不可少的。遵循制造商的预防性维护指南，包括清洁光学部件和检查软件更新。保持所有维护活动的记录。