二手计量/检验（半导体）在京畿道, 韩国

2005 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS101 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
2003 KLA，SP3，粒子计数器
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: SP3
序号: 45120310476 | 数量: 1 | 设备细节: 粒子计数器 | 设备: 粒子计数器 | 描述: 晶片 450 毫米
水原市, 韩国
2014 Veeco、Dektak6M、Alpha Step
- 二手
- 品牌: Veeco - Sloan
- 型号: Dektak
序号: 24278 | 数量: 1 | 设备细节: 阿尔法台阶 | 设备: 阿尔法台阶 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
KLA TENCOR，P-10，表面轮廓仪（Windows DOS）
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-10
序号: 03970318 | 数量: 1 | 设备细节: 表面轮廓仪（Windows DOS） | 设备: 表面轮廓仪 | 描述: Windows DOS
水原市, 韩国
2021 KLA、AFS-3220、平面度测量仪
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS101 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
1999 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
KLA TENCOR、P-15、表面轮廓仪（windows XP 专业版）
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-15
序号: 0803105587 | 数量: 1 | 设备细节: 表面剖析器（windows XP 专业版） | 设备: 表面分析器 | 描述: Windows XP 专业版
水原市, 韩国
2013 KLA、PHXDF5.0、Wafersight3
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: 48130711333 | 数量: 1 | 设备细节: Wafersight3 | 设备: Wafersight3 | 描述: 晶片 450 毫米
水原市, 韩国
1999 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS069 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
KLA TENCOR，P-15，长扫描剖面仪
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-15
序号: 905001693 | 数量: 1 | 设备细节: 长扫描剖析器 | 设备: 长扫描剖析器 | 描述: 不适用
水原市, 韩国
VEECO，DEKTAK6M，表面轮廓仪
- 二手
- 品牌: Veeco - Sloan
- 型号: Dektak
序号: 34542 | 数量: 1 | 设备细节: 表面分析器 | 设备: 表面分析器 | 描述: 扫描长度 50㎛~30mm，晶片直径 150mm
水原市, 韩国
2010 KLA TENCOR、Alpha Step IQ、ASIQ3
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
序号: 7083372 | 数量: 1 | 设备细节: 阿尔法阶梯智商 | 设备: 阿尔法阶梯智商 | 描述: Windows 7 pro
水原市, 韩国
KLA-TENCOR P 12
- 二手
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-12
京畿道, 韩国
KLA_TENCOR CI T1X0
- 二手
- 品牌: KLA_TENCOR
过程: CI T1X0 | 航运: 淘宝网
京畿道, 韩国
KLA_TENCOR CI T1X0
- 二手
- 品牌: KLA_TENCOR
过程: CI T1X0 REV.2 | 航运: 淘宝网
京畿道, 韩国