序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: Wafersight | 设备: Wafersight | 描述: 晶片 300 毫米,220 伏,50-60 赫兹
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 边缘检测 | 设备: 边缘检测 | 描述: 威化饼 12 英寸