新 TMP-200S 在 北京市, 北京, 中国
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规格参数
描述
该系列设备是适用于薄膜(介质层)的cmp抛光设备,包括氧化物、金属、sti、soi、mems等产品的平坦化抛光。采用多分区气囊加压方式,可实现纳米级精密去除,配置半自动上下片系统,可根据需求选配摩擦力、电涡流、在线红外检测等epd功能。
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该系列设备是适用于薄膜(介质层)的cmp抛光设备,包括氧化物、金属、sti、soi、mems等产品的平坦化抛光。采用多分区气囊加压方式,可实现纳米级精密去除,配置半自动上下片系统,可根据需求选配摩擦力、电涡流、在线红外检测等epd功能。