新 SD CHEQ 15000 在 安卡拉, 土耳其

Bastak SD CHEQ 15000 只需 1 克样品，即可通过电化学分析快速测定受损淀粉含量，有助于高效评估面团品质、烘焙性能和面粉标准。
Bastak 15000 SD Cheq 无需耗时费力地分析受损淀粉值，只需极少量（1 克）样品，即可通过电化学安培法分析淀粉颗粒吸收的碘量。该仪器可测定面团发酵条件、面团脱水量、面团流变特性、面团烘焙性能、最终产品的香气形成、标准面粉的生产、饼干的破碎率以及滚筒老化的预防。优点：在 35 ºC 的标准温度下，通过电化学方法测定面粉中的受损淀粉含量。