基本性能
1.各大廠認可針對塑料及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
2.採用高靈敏度矽半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正技術(Seiko專利)
5.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)
6.EA1000AII 強化1mm準直器的技術，使Cd/Pb/Cr的感度大大的提升(約為EA1000A的8~10倍)
外觀及狀況良好，歡迎洽詢！
提供電子儀器的基本外部清潔、基本功能檢測，經過測試後，確認儀器運作無誤，連同發票並附儀器維修保固，專業儀器維修安捷倫等各類儀器維修。
