新 光學測試系統主機 Optical Test System Mainframe 在 桃园市, 台湾

Agilent 87075C 多端口測試儀
AQ8203 Halfsize Frame 用於 MUX/DEMUX、AWG 和 EDFA 等 WDM 相關設備的規格評估。
包括 WDM DFB-LD 在內的光源、光衰減器和光功率計等模塊陣容已準備好實現各種應用。 它們用於 AQ8201 光學測試和測量系統，為從研發到製造的功能提供全面支持。
例如，使用小型、輕便、多功能的 AQ8203 Halfsize Frame（可安裝三個模塊）用於研發和維護，以及用於生產的 AQ8201 光學測試和測量系統（可安裝 10 個模塊），可以提高安裝成本效率 .
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