新 Profiler 在 Raaba, 奥地利
新
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规格参数
- 新旧状况
- 新
- 测量标准
- 非接触，光学，立体三维，基于Focus Variation 自动变焦技术
- 定位量 (z)
- 25 mm (自动)
- 物镜放大倍数
- x10; x20; x50
- 工作距离
- mm; 17.5; 16; 10.1
- 横向测量范围(x,y)
- mm; 2; 1; 0.4
- (x x y)
- mm²; 4; 1; 0.16
- 垂直分辨率
- nm; 100; 50; 20
- 最小可测量表面轮廓粗糙度 (ra)
- µm; 0.3; 0.24; 0.18
- 最小可测量表面面粗糙度 (sa)
- µm; 0.15; 0.12; 0.9
- 分类
- 一般分析设备
- 子类别
- 光学三维测量系统和设备
- 产品编号
- 40229665
描述
用于粗糙度测量的光学轮廓仪
基于轮廓和面积的粗糙度测量的光学轮廓仪
Profiler是一个手持式3D粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面粗糙度。用户只用一个系统就可以测量平面和曲面部件的粗糙度。测量是基于轮廓（ISO 4287）和基于面积（ISO 25178）进行的。
轻巧的Profiler由一个三维测量传感器和一个坚固的、同时也是方便的框架组成。符合人体工程学的设计结合了使用的便利性和所需的机械刚性。在最短的三秒钟内就可以实现可追溯和可重复的测量。
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技术参数
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用于表面粗糙度测量的轮廓仪
除了用于精确表面粗糙度测量的 IF-Profiler 轮廓仪外，Bruker Alicona 还提供多种光学测量仪器。我们的产品组合包括光学坐标测量机，用于对复杂部件进行高精度和可靠的3D测量；协作机器人（cobots），适用于在生产中灵活和安全地自动化测量任务；以及像 PortableRL 这样的便携式测量设备，使现场测量变得简单和便捷。
如果您不确定哪种测量系统适合您的应用，
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。他们很乐意为您提供帮助。探索我们丰富的产品，找到满足您测量需求的最佳解决方案。
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