二手 日立紫外检测器U-4100 在 广州市, 广东省, 中国

规格参数

新旧状况
二手
产地
日本
厂商性质
一般经销商
产地类别
进口
项目
参数
波长范围
175 – 2,600 nm(紫外-可见-近红外全波段)
单色器类型
双单色器系统(可选 棱镜-光栅 P-G 或 光栅-光栅 G-G 配置)
光谱带宽
0.1 – 8.0 nm(连续可调)
波长准确度
±0.2 nm(200–900 nm);±0.8 nm(900–2600 nm)
吸光度范围
-3.0 – 3.0 Abs(可扩展至更高)
杂散光
<0.00005%(220 nm,NaI 法)
光路结构
双光束、双检测器(PMT + InGaAs/PbS)
附件
功能
150 mm 积分球(标配)
测量漫反射/漫透射,适用于粉末、粗糙表面
5°/45° 反射附件
模拟人眼视角,用于显示面板、涂料评估
偏振附件
分析偏振特性(如 AR 膜、相位延迟膜)
变温样品台
-190°C 至 +250°C,研究温度依赖光学性能
光纤探头
实现原位、远程测量
产品货期
14天
整机质保期
3月
培训服务
安装调试现场免费培训
安装调试时间
到货后30天内
电话支持响应时间
24小时内
是否提供维保合同
维修响应时间
3天内
节假日是否提供上门服务
核心零部件货期
7天
核心零部支持时间
10年
是否支持上门巡检
是否提供预防性维护计划
是否提供期间核查方案
是否提供免费应用支持
是否提供付费应用支持
是否提供线上售后平台
维修付款方式
先维修后付款
基本维修资料公开
专用工具
无理由退换货
不支持
其他
专为固体样品设计
适用于薄膜、玻璃、滤光片、太阳能电池、光学镀膜等材料的透射率、反射率、漫反射率测量。
非破坏性、高精度
满足研发与质量控制对光学性能的严苛要求。
✅ p-g(棱镜-光栅)配置优势
偏振效应极小(S/P 光强度差异 <5%)
最大样品尺寸
200 mm × 200 mm(或更大,依附件而定)
分类
实验室设备
产品编号
111299699

描述

简介
日立U-4100紫外-可见-近红外分光光度计是一款专为固体样品设计的高端光谱分析仪,具备175-2600nm宽波长范围和双光束双单色器结构,支持透射、反射、漫反射等多种测量模式。配备丰富附件,适用于半导体、光学材料、新能源等领域,满足高精度光学性能测试与科研需求。
日立(Hitachi)U-4100 紫外-可见-近红外分光光度计 是日立高新技术公司(Hitachi High-Tech)推出的高端双光束、双单色器型固体样品分析专用光谱仪,自上市以来因其卓越的稳定性、宽波长范围和优异的固体样品测试能力,成为全球半导体、光学材料、新能源、纳米科技等领域的重要分析工具。
一、核心定位
累计销量超 1,500 台(截至2025年),是行业标杆级仪器。

二、关键技术参数
特别适合偏振敏感材料(如液晶、OLED)的精确测量
三、固体样品测试能力(核心优势)
标配大样品舱
支持多种测量模式:
透射(Transmission)
镜面反射(Specular Reflectance)
漫反射(Diffuse Reflectance)
绝对反射率(需配标准反射镜)
丰富附件支持
四、典型应用领域
半导体与显示行业
OLED/LED 薄膜透射率、ITO 导电膜方阻估算
光伏材料
太阳能电池减反射膜、背电极反射率
光学镀膜
多层介质膜光谱曲线验证(符合 ISO 9039)
新材料研发
石墨烯、钙钛矿、量子点的吸收边与带隙计算
建筑与汽车玻璃
可见光透射比、紫外线阻隔率、太阳光总透射比(TSER)

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品牌
日立/Hitachi
型号
U-4100
位置
🇨🇳 广州市, 广东省, 中国

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