新 EIGER2 X CdTe 在 北京市, 北京, 中国
新
规格参数
- 新旧状况
- 新
- 像素大小 [μm2]
- 75 x 75
- 能量阈值数量
- 2
- 计数率[ph/s/pixel]
- 107
- 点扩散函数[pixel]
- 1
- 传感器厚度[μm]
- 750
- 数据格式
- HDF5 / NeXus
- 产地
- 瑞士
- 子类别
- 产品中心
- 子类别 2
- 瑞士光子计数x射线探测器
- 产品编号
- 108809844
描述
1.产品特点:
第四代同步加速器的尖端技术,EIGER2 X CdTe探测器适用于需要在高能量下获得超高分辨率和帧频的科学家。您现在可以以75µm的单像素级空间分辨率检测能量高达100 keV的光子。由于无死区时间读数,您不会在帧之间丢失光子。第二个能量区分阈值允许你在两个能量窗中对样品进行成像或削减高次谐波以减少背景噪音。以最大计数速率高达107光子/秒/像素的超高计数率能力来配备您的光束实验站,为未来做好准备。EIGER2 X CdTe探测器将超高性能与易于集成操作结合在一起。
2.核心优势:
量子效率高、能量范围高达100KeV。
没有图像延迟或余辉。
最大计数速率高达107光子/秒/像素。
双能量阈值。
电子门控触发。
有效面积大。
3.应用领域:
X射线衍射(单晶和粉末)
现场和原位技术
衍射显微镜和层析成像
漫散射和对分布函数
4.技术参数:
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