新 EIGER2 R CdTe 在 北京市, 北京, 中国
新
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规格参数
- 新旧状况
- 新
- 像素大小 [μm2]
- 75 x 75
- 能量范围[kev]
- 8-25/(8-100)1
- 能量阈值
- 2
- 阈值范围[kev]
- 4-30/(4-80)1
- 计数率 (最大@22kev)[phts/s]
- 5.5×106
- 单位面积计数率 (最大@22kev)[phts/s/mm²]
- 9.8×108
- 读出时间[2]
- 连续
- 传感器材料
- 碲化镉
- 传感器厚度[μm]
- 750
- 点扩散函数
- 1
- 真空兼容性
- 可选
- 冷却方式
- 水冷
- 产地
- 瑞士
- 子类别
- 产品中心
- 子类别 2
- 瑞士光子计数x射线探测器
- 产品编号
- 108809838
描述
1.产品特点：
EIGER2 R CdTe X 射线探测器融合了最新的HPC技术成果和碲化镉传感器的高量子效率，使其成为在使用高能量X射线源或需要双波长装置实验室中变得不可获缺。DECTRIS的专利技术“即时再触发”赋予了它前所未有的高计数率能力，因此能够更精确地测量实验室光源能达到的最高强度。这些探测器配备有双能量识别阈值，相较于前代探测器系列，其对环境引起的暗计数更低。这显著提高了微弱信号和长时间曝光的信噪比，从而缩短了测量时间，提高了数据质量。通过单光子计数与连续读/写相结合，克服了所有饱和问题以及积分探测器动态范围的限制。此外，直接探测和75微米的小像素尺寸确保了高空间和角度分辨率。
2.核心优势：
结合DECTRIS即时在触发技术实现卓越的计数率。
通过零探测器背景噪音，卓越的计数率与和同步读/写性能，实现了最高可能的动态范围。
直接探测和小尺寸像素相结合，实现了最佳的光斑分离，最小的背景重叠，以及更好的信噪比。
借助数字计数和读出技术，探测器实现了零读出噪音或暗电流，实现了最佳的信噪比。
双能量阈值可抑制低能量和高能量背景。
3.应用领域：
X射线单晶衍射
粉末X射线衍射
(SAXS/WAXS）小角X射线散射和广角X射线散射
μCT X射线计算机显微成像
4.技术参数：
【1】可选择校准来扩展能量范围
【2】两次曝光之间的有效死时间＜100ns（最大损失1count/pixel）
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