新 EIGER2 R 在 北京市, 北京, 中国
新
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规格参数
- 新旧状况
- 新
- 像素大小 [μm2]
- 75 x 75
- 能量范围（kev）
- 5.4-22.2
- 能量阈值数量
- 2
- 阈值范围（kev）
- 3.5-30
- 计数率 (最大@8kev)[phts/s]
- 3.8×106
- 单位面积计数率 (最大@8kev)[phts/s/mm²]
- 6.7×108
- 读出时间[2]
- 连续
- 传感器材料
- 硅
- 传感器厚度 [μm]
- 450
- 点扩散函数
- 1 pixel
- 真空兼容性
- 可选
- 产地
- 瑞士
- 子类别
- 产品中心
- 子类别 2
- 瑞士光子计数x射线探测器
- 产品编号
- 108809837
描述
1.产品特点：
EIGER2 R融合了混合光子计数的所有高端性能。小尺寸像素与直接探测相结合。实现了高空间分辨率和角分辨率，使您在倒易空间内进行精细样品的测量。出色的计数率性能确保了即使是最高强度X射线的信号 也能被精确测量，通过无死区时间的同步读写，即使在长时间曝光期间，您也可以充分利用该探测器系列的广泛动态范围。双能量识别可以实现深度背景抑制，并提高信噪比，特别适用于处理微弱信号和长期曝光的情况，借助可选择的真空兼容性，您可以消除空气和窗口引起的吸收和散射。我们提供四种不同型号以满足您的需求 。
2.核心优势：
DECTRIS即时在触发技术实现几乎线性的响应和卓越的计数率。
由于探测器具有零背景噪音，出色的计数率和和同时读写性能，实现了最大可能的动态范围。
直接探测和小尺寸像素相结合，实现了最佳的光斑分离，最小的背景重叠，以及更好的信噪比。
双能量识别有助于抑制低能量和高能量背景。
借助数字计数和读出技术，该探测器实现了零读出噪音或暗电流，可提供最佳的信噪比。
3.应用领域：
X射线单晶衍射
X射线粉末衍射
(SAXS/WAXS）小角X射线散射和广角X射线散射
EXAFS，XANES 扩展X射线吸收精细结构， X射线吸收近边结构
4.技术参数：
【1】可选择校准来扩展能量范围
【2】两次曝光之间的有效死时间＜100ns（最大损失1count/pixel）
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