新 OI-104A芯片抗静电测试系统 在 北京市, 北京, 中国

测试在一个系统中，该系统可包括
128
针全引脚组合
ESD
测试功能，以及符合
IEC61000-4-2
，
GB/T17626.2
、
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017
、
AEC-Q100-002-REV-E
、
MIL-STD-883K
、
GJB548B-2005
、
AEC-Q100-003E
的要求。
技术参数：
Ø
试验主机采用
17
寸显示触控屏
Ø
放电模型
：
HBM
人体放电模型
；
借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使
DUT
矢量化
，
以实现出色的控制
Ø
最大输出试验电压
（
HBM
）：
±15kV
Ø
支持测试通道
：
128
通道
；
测试和参数测量过程中可以使用嵌入式偏置电源控制
DUT
引脚
Ø
电压精度
：
±5%+5V
设置值
Ø
ESD
重复次数
：
1
到
100
Ø
ESD
周期
：
300 ms
到
5s
，
步进
100 ms
Ø
测试电容
/
电阻
：
100PF/1500Ω
，
HBM
脉冲源
Ø
符合标准
：
MIL
，
JEDEC
，
JEITA
，
ESDA
，
AEC
，
IEC
，
GJB
Ø
系统针对器件可进行高精度的
V/I
电源测试分析
。
以及正向电压
、
正向电流
、
反向漏电流等参数测试和自定义失效判定功能
；
Ø
全自动测试程序
，
采用远程控制测试系统软件
，
测试数据可导出用于统计评估及演示
，
也可用于故障后数据
、
完整曲线追踪及特定数据点的测
量