新 4200A-SCS参数分析仪 在 北京市, 北京, 中国
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规格参数
- 新旧状况
- 新
- 特点
- 优势
- 将源测量单元、c-v 单元和超快脉冲 i-v 单元无缝结合的一体化系统
- 快速、清晰和准确地执行 I-V 特性分析、交流阻抗测量、波形捕获和瞬态 I-V 测量
- Clarius™ 基于 gui 的软件，支持触摸或鼠标控制
- 高级测试定义、参数分析、图形绘制和自动化功能，实现清晰、卓越的测量和分析
- 内置上下文相关的测量视频和 450 多种应用测试
- 快速启动测试及提供测量帮助和故障排除向导
- I-v 源测量单元 (smu)
- ±210 V / 100 mA 或 ±210 V / 1 A 模块，100 fA 测量分辨率，以及带可选前放的 0.1 fA 测量分辨率
- C-v 多频率电容单元 (cvu)
- 交流阻抗测量（C-V、C-f、C-t），1 kHz – 10 MHz 频率范围
- I-v/c-v 多通道开关模块 (cviv)
- 在 I-V 和 C-V 测量之间轻松切换或将 C-V 测量移至任何终端，而无需重新布线或抬起探针
- 脉冲式 i-v 超快脉冲测量单元 (pmu)
- 两个独立或同步的高速脉冲式 I-V 源和测量通道；200 MSa/s，5 ns 采样率；利用可选的前放将电流灵敏度扩大到几十皮安
- 高电压脉冲发生器单元 (pgu)
- 两通道高速脉冲电压源；±40 V (80 V p-p)，±800 mA
- 可完全定制和升级
- 现在或以后均可根据需要随时添加模块
- 配置
- 技术数据
- 4200a-scs-pk1高分辨率 iv套件
- 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 用于两端或三端器件，MOSFET，CMOS 等特性分析
- 4200a-scs-pk2高分辨率 iv和cv套件
- 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于表征高k电介质、深度亚微米 CMOS 器件
- 4200a-scs-pk3高分辨率 和高功率iv和cv套件
- 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于表征功率器件、高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 器件
- 4200-bti-a超快 nbti/pbti套件
- 用于使用尖端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量
- 子类别
- 电子仪器
- 子类别 2
- 其它测试仪表
- 子类别 3
- 器件和电路板测试
- 产品编号
- 104133098
描述
简介：
可同时进行电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V电学测试。4200A-SCS是最高性能的分析仪，可加快用于材料研究、半导体器件设计、工艺开发或生产的复杂器件的测试。
产品简介：
4200A-SCS是一个模块化、可定制、高度一体化的参数分析仪，可同时进行电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V电学测试。使用其可选的4200A-CVIV多通道开关模块，可轻松地在I-V和C-V测量之间切换，而无需重新布线或抬起探针。4200A-SCS是最高性能的分析仪，可加快用于材料研究、半导体器件设计、工艺开发或生产的复杂器件的测试。
亲眼见证创新！4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V)和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪，4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。4200A-SCS ClariusTM基于GUI的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时可以投入使用的应用测试，Clarius Software可以更深入地挖掘研究过程，快速而又满怀信心。4200A-SCS参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配置，不管是现在还是未来，都可以随时对系统进行升级。通过4200A-SCS参数分析仪，通往发现之路现在变得异常简便。
功能特点：
典型应用：
MOSFET、BJT晶体管
材料特性分析
非易失性存储设备
电阻率系数和霍尔效应测量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
纳米器件
二极管和pn联结
太阳能电池
传感器
MEMS器件
电化学
LED和OLED
（欢迎来函索取资料
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