新
Doubleclick to zoom in
产品详细描述 ISO 4593 薄膜测厚仪，分辨率为 0.1 μm，适用于纸张、硅片 概述： ZL-1210 薄膜测厚仪采用机械接触式测量方法，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于在测量范围内精确测量塑料薄膜、片材、膜片、纸张、铝箔、硅片等各种材料的厚度。 专业性：
严格按照标准设计接触面积和测量压力，同时支持各种非标准定制； 测试过程中测量头自动升降，有效避免人为因素造成的系统误差； 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择；
该卖家提供新机器
Brandon, 美国
12/18/2024
My experience with the seller was good, no unexpected delays on their part. I have yet to receive the machine, sea shipments are slow.
Alex, 以色列
All good, it was a pleasure doing business with you.
请向卖家询价
值得信赖的卖家
