二手 NIDEK FT-17 在 东莞市, 广东省, 中国

∮130mm
以下各类晶片平坦度测试装置，该装置采用激光斜射干涉技术
二，可设定
1
，
2
，
3
，
4
，
5μm/fringe
的干涉条纹。
三，接入标准的解析装置，以表示各类晶片的平面度。测定结果，可用各种测定值，等高线图，俯视图，断面图等图表示。
四，无须校准
五，以专用解析装置控制程序使操作变得容易
NIDEK FT-17
平坦度测试仪技术参数
1
，测定方法：光波干涉方法（倾斜入射）
2
，光源：半导体激光（
655nm
，
3mw
）
3
，样片尺寸：
∮130mm
以下，但是平坦度在
∮100mm
以下
4
，样片厚度：
2000um
以下（平坦度测定
250um-1000um
以下）但是承受台
10mm
、其他厚度请以其他方式商谈
5
，样片的种类：晶片（硅、化合物、酸化物、玻璃）金属片、磁碟（铝、玻璃）模具等 镜面及非镜面（除反射率低的非镜面）
6
，样片的倾斜角度：比垂直向前倾斜
8
度
7
，干涉计设定感度：
1
，
2
，
3
，
4
，
5μm/
线距
8
，测定范围：线距感光的
30
倍（线距状况、有比镜片尺寸等
30
倍以下的场合）
9
，摄像光学比：
3
倍以上
10
，
电源：
AC100V
Nidek高精密平面度检测仪,适用于透明晶体物体（如蓝宝石晶片等）和LED外延晶片、芯片的检测。
其应用不仅局限于对蓝宝石衬底单面
/双面的表面平坦检测，而且更多地应用于对外延之后，外延层表面品质、TTV等的检测和评估。
在电脑显示屏上，它可自动生成三维立体的表面彩色效果图，以帮助人们清楚细微地、直观地了解和掌握对象物表面层生长的情况。
测试项目
吸附：
GFLR
、
GF3D
、
GF3R
、
TV
、
GBIR
、
TAPER
、
TAng
、
SFLR
、
SFLD
、
SFQR
、
SF3R
、
SF3D
、
SBIR
、
SBID
非吸附：
BOW
、
SORI
、整体应力、局部应力
可测试晶片种类
切割片、研磨片、抛光片、外延片、磊晶片
可选配光刻区域模拟软件、应力分析软件等