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二手 KLA-Tencor afs-3220 计量/检验（半导体）在京畿道, 韩国

2021 KLA、AFS-3220、平面度测量仪
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS101 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
1999 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 品牌: KLA-Tencor
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
1999 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS069 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
2003 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 品牌: KLA-Tencor
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国
2005 KLA，AFS-3220，平面度测量仪
- 品牌: KLA-Tencor
序号: AMS101 | 数量: 1 | 设备细节: 平面度测量 | 设备: 平面度测量 | 描述: 晶片 300 毫米，扫描厚度：精确度 0.25 微米
水原市, 韩国