
2000 HITACHI S-4160
- 品牌: Hitachi
- 型号: S-4160
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 决心: 2.5纳米,30千伏 | 放大率: 20X - 300KX | 电子枪: 冷场发射源,0.5 - 30 kV | 镜头类型: 电磁 | 物镜孔径: 可从外部选择4个位置 | 污名者: 八极电磁波 | 扫描线圈: 2级电磁式 | 尺寸: 8英寸晶圆可交换 | 泵: 涡轮泵 | 舞台动作: 5轴电机驱动 | 图像显示: 双12 "显示器 | * 选项...
天安市, 韩国
2006 KLA TENCOR CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器,635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长,0.1μm宽,50埃;深。 | - 坑: 直径2...
天安市, 韩国
1997 KLA TENCOR P-11
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-11
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 测量范围: 13㎛,65㎛,327㎛. | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~ 50mg。 | - 电动x-y平台(最大样品量: 254x254mm)。 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 115V/50HZ,4A。
天安市, 韩国
天安市, 韩国
KLA TENCOR P-2
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-2
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | - 扫描长度: 210mm。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 1 ~100毫克。 | - 电动x-y平台(最大样品量: 254x254mm)。 | - 选择: 精密定位器 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
天安市, 韩国
天安市, 韩国
天安市, 韩国
2006 SONIX Quantum 350
- 品牌: Sonix
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 业务 | 成像分辨率: 0.5微米 | 扫描速度: 最大。1000毫米/秒 | 扫描区: 350 毫米 x 350 毫米
天安市, 韩国
1992 PROMETRIX RS 35
- 品牌: PROMETRIX
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | *.过程: 晶圆片电阻测量 | *. 晶片尺寸: 2"~ 8" | - 操作软件: 统计图表(StatTrax) | - 需要压缩空气80 ~ 100 psi , 真空: 25mmHg
天安市, 韩国
1993 KLA TENCOR FLX2320
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: FLX-2320
晶片尺寸: 6" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | -晶片: 6" | -速率: 5秒,用于150毫米晶圆。 | -范围: 2x10E7 ~ 4x10E7 达因/厘米2 | -均方根噪音: 0.0001 mE-1(半径=10,000米) | -决心: 0.00003mE-1(33公里) | -min scan setp: 0.02mm | -每次扫描的最高分: 1250 | -最小半径: 2.0m(for...
天安市, 韩国
2009 KLA TENCOR CS10V
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS10V
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 25毫瓦的激光,405纳米的波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长,0.1μm宽,50埃;深。 | - 坑: 直...
天安市, 韩国
2006 KLA TENCOR CS20
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: CS20
晶片尺寸: 2 ~8英寸 | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 照明源: 8mW激光器,635纳米波长 | 操作员界面: 轨迹球和键盘标准 | 基材厚度: 350 μm ~ 1,100 μm | 基板材料: 任何透明或不透明的抛光表面 | 其他缺陷和应用: 颗粒、划痕、污点、凹坑和凸起。 | 敏感性: 自动缺陷分类的最小可检测尺寸 | - 刮痕: 100μm长,0.1μm宽,50埃;深。 | - 坑: 直径2...
天安市, 韩国
1996 KLA TENCOR P-12
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-12
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | - 测量范围: 6.5㎛,26㎛,131㎛. | - 扫描长度: 150 毫米。 | - 扫描速度: 1㎛ ~ 25毫米/秒。 | - 测针力: 0.05 ~50 毫克。 | - 操作系统 windows 3.1,- 软件/硬件版本: 3.1.9 | - 公用事业: 真空。 | - 权力: 110V/50HZ, 4A。
天安市, 韩国
KLA TENCOR P-16
- 品牌: KLA-Tencor
- 型号: P-16
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 优秀 | 率领: 微型云台 II - XR(13、131、1048㎛ 范围) | 负载卡盘: ~8英寸,带精密定位器 | 测针尖(绿色): 2㎛ 半径 | 抓帧器: USB摄像机类型 | 权力: 100~240V,最大6A。 | P.c: 峰值-735,内存 1GB,硬盘 19GB | Os: Windows XP | S/w: 剖析器 v7.1
天安市, 韩国
NANOMETRICS 210
- 品牌: Nanometrics
- 型号: 210
晶片尺寸: 8" | 销售状况: 沽出 | 工具的状况: 翻新 | *.过程: 薄膜厚度测量。 | *.波长: 390~800纳米钨灯12V/50W。
天安市, 韩国
