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二手测试和测量设备在京畿道, 韩国

2003 NIKON，OPTIPHOT-300D，检测显微镜
- 品牌: Nikon
- 型号: Optiphot 300
序号: 625331 | 数量: 1 | 设备细节: 检查显微镜 | 设备: 检查显微镜 | 描述: 14x10 平台，晶片 12"，100-120V，3A，50/60Hz
水原市, 韩国
2003 尼康，OPTIPHOT-300D，检测显微镜
- 品牌: Nikon
- 型号: Optiphot 300
序号: 625331 | 数量: 1 | 设备细节: 检查显微镜 | 设备: 检查显微镜 | 描述: 14x10 平台，晶片 12"，100-120V，3A，50/60Hz
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2012 KOH YOUNG，KY-7100，三维自动光学检测机
- 品牌: Koh Young
- 型号: KY7100
序号: AOI-S001 | 数量: 1 | 设备细节: 三维自动光学检测机 | 设备: 三维自动光学检测机 | 描述: 208 伏交流，单相，50/60 赫兹
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2011 NIKON、VMR-3020、测量显微镜
- 品牌: Nikon
- 型号: Nexiv VMR-3020
序号: 1303969 | 数量: 1 | 设备细节: 测量显微镜 | 设备: 测量显微镜 | 描述: 行程 300x200x150mm，最小读数 0.1㎛
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三丰，QV-X302P1L-C，视觉测量系统
- 品牌: Mitutoyo
- 型号: QV-X302P1L-C
序号: 000150704 | 数量: 1 | 设备细节: 视觉测量系统 | 设备: 视觉测量系统 | 描述: 不适用
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LG，二维测量机
- 品牌: LG
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 二维测量机 | 设备: 二维测量机 | 描述: 尺寸 2000x2000mm
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2013 Maru lnc, wvtr 测量设备
- 品牌: MARU LNC
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: WVTR 测量设备 | 设备: WVTR 测量设备 | 描述: 不适用
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三丰，SV-3100，形状测量
- 品牌: Mitutoyo
序号: 610106 | 数量: 1 | 设备细节: 形式测量 | 设备: 形式测量 | 描述: 测量范围 X 轴 100 毫米（4 英寸）/200 毫米（8 英寸）
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SOKKIA，PCM-1600，二维测量机
- 品牌: Sokkia
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 二维测量机 | 设备: 二维测量机 | 描述: 不适用
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薄膜度量、F50、薄膜厚度测量
- 品牌: Film Metrics
序号: 12H011 | 数量: 1 | 设备细节: 薄膜厚度测量 | 设备: 薄膜厚度测量 | 描述: 厚度范围 20nm~70㎛
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三丰，SV-3000CNC，形状测量
- 品牌: Mitutoyo
序号: 800011104 | 数量: 1 | 设备细节: 形式测量 | 设备: 形式测量 | 描述: X 轴范围 8 英寸/200 毫米
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2010 KIMSOPTEC，LENSCAN-LS40，厚度测量机
- 品牌: KIMSOPTEC
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 厚度测量仪 | 设备: 厚度测量仪 | 描述: 不适用
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2017 PIMACS、Neooptical5600、光谱响应度测量系统
- 品牌: PIMACS
序号: NOK170001 | 数量: 1 | 设备细节: 光谱响应度测量系统 | 设备: 光谱响应度测量系统 | 描述: AC220V，50/60Hz
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2010 K-MAC，ST4000-DLX，薄膜厚度测量仪
- 品牌: K-MAC
序号: ST4KM1003064 | 数量: 1 | 设备细节: 薄膜厚度测量 | 设备: 薄膜厚度测量
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2002 Image Expert，001-907540mmx，精密影像测量仪
- 品牌: Image Xpert
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 精密影像测量仪 | 设备: 精密影像测量仪 | 描述: 不适用
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