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2001 Semilab,WT-2000,晶圆测试仪
- 品牌: Semilab
- 型号: WT-2000
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 晶片测试仪 | 设备: 晶片测试仪 | 描述: 晶圆尺寸可达 300 毫米
水原市, 韩国Nihon Garter,NPT-200,剥离测试仪
- 品牌: Nihon Garter
序号: 不适用 | 数量: 1 | 设备细节: 剥离测试仪 | 设备: 剥离测试仪 | 描述: 分辨率 0.001,测量速度 4p/sec
水原市, 韩国2013 Bruker,Contour SP,落地式 3D 光学轮廓仪
- 品牌: Bruker
序号: CSP-13-0104 | 数量: 1 | 设备细节: 落地式 3D 光学轮廓仪 | 设备: 落地式 3D 光学轮廓仪
水原市, 韩国赫尔穆特-费舍尔,XULM-XYM,X 射线厚度测试仪
- 品牌: Fischer
序号: SN010001432 | 数量: 1 | 设备细节: X射线测厚仪 | 设备: X射线测厚仪 | 描述: 手动 X/Y 平台 50x50mm
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